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OLYMPUS DP74攝像頭高清工業(yè)相機(jī)
2019-01-30
開發(fā)的位置導(dǎo)航功能可創(chuàng)建背景地圖,幫助您定位高倍采集圖像在標(biāo)本內(nèi)的位置,像GPS定位一樣,增加您的工作便利性。結(jié)合軟件新開發(fā)的即時(shí)手動(dòng)拼圖功能,輕松實(shí)現(xiàn)手動(dòng)載物臺下實(shí)時(shí)、快速、連續(xù)拼接大圖。DP74所采用的型3-CMOS模式使每個(gè)像素的信息與三芯片相機(jī)一樣,該模式在不提高圖像大小的條件下,獲得了細(xì)節(jié)更多、色彩還原優(yōu)異的高分辨圖像。DP74是一款有2070萬像素、顯微鏡的數(shù)碼顯微照相裝置。擁有優(yōu)異的色彩和明晰的細(xì)節(jié),每秒可拍攝60幀畫面,擁有異常的靈活性,可以用于各種不同的應(yīng)用...
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水滴角測試儀原理
2019-01-26
目前市場上有很多自稱是“水滴角測量儀”的分析儀器,通常這些儀器是將臥式顯微鏡或平整度分析儀增加一個(gè)進(jìn)液裝置后,再采用簡單的量角度軟件(如圓擬合分析工具、橢圓擬合分析工具)進(jìn)行測量。通過如上描述,用戶就會(huì)明顯看出,這樣的儀器只能是基于顯微鏡的一個(gè)量測二維條件下的水滴輪廓的角度的工具而已。如上1所述,水滴角值是表征固體材料物理化學(xué)性質(zhì)值,這個(gè)值屬于物理化學(xué)領(lǐng)域。且由于如下固體材料客觀存在的原因:(1)表面粗糙度:導(dǎo)致各視角條件下角度可能有不同;(2)化學(xué)多樣性:比如生銹的鐵銹位置...
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選購水滴角的注意事項(xiàng)
2019-01-26
水滴角或水接觸角的測試主要注意點(diǎn)包括:(1)水的純度或清潔度一定要有保證。通常而言,建議測試水滴接觸角值時(shí)采用二次蒸餾水更好。(2)盡量保證室溫的穩(wěn)定性。*,水的表面張力值受溫度影響而有變化。但對于超疏水或超親水表面時(shí),接觸角值事實(shí)影響并非很大,約在2度之內(nèi)。(3)測試水滴角前,一定要作進(jìn)液系統(tǒng)及水的清潔度的判斷。方法為,測試之前,采用基于ADSA-RealDrop算法的Young-Laplace方程擬合法對水的表面張力值進(jìn)行測試。ADSA-RealDrop法由于不受針頭直徑...
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北京品智創(chuàng)思臺階儀特點(diǎn)
2019-01-26
臺階儀屬于接觸式表面形貌測量儀器。根據(jù)使用傳感器的不同,接觸式臺階測量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。其測量原理是:當(dāng)觸針沿被測表面輕輕滑過時(shí),由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí),還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號經(jīng)測量電橋后,輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調(diào)幅信號。經(jīng)放大與相敏整流后,可將位移信號從調(diào)幅信號中解調(diào)出來,得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號。再經(jīng)噪音濾波器、波度濾波器進(jìn)一步濾去調(diào)制頻率與外界干擾信號...
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電池充電放電測試系統(tǒng)
2019-01-26
設(shè)備型號PZ-M50A/400V輸出通道1通道1柜,共1柜接口與訊通過485與PC機(jī)通訊,可通過U口或串口連接,一臺PC機(jī)可控制200工作模式恒壓充電、恒流充電、恒流定終止電壓檢時(shí)放電、恒流定時(shí)檢壓放電、恒功率放電、恒電阻放電、靜置、暫停、循環(huán)運(yùn)行方式,設(shè)置多階段程序時(shí)運(yùn)行方式可以自由組合階段切換條件時(shí)間、電壓、安時(shí)實(shí)時(shí)顯示電流、電壓、時(shí)間、階段、模式、Ah、Wh、單體電壓操作模式1.階段數(shù)目、電流、電壓等參數(shù)可以在額定范圍內(nèi)自行設(shè)置;2.程序設(shè)置終止條件時(shí),不必逐項(xiàng)都填寫,...
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晶圓表面張力接觸角表面能分析檢測測量系統(tǒng)
2019-01-26
晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)詳情:晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)適用于半導(dǎo)體晶圓(Wafer)工藝的質(zhì)量控制。該視頻成像(VCA-Wafer)晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)提供晶圓(Wafers)表面的快速并準(zhǔn)確的接觸角/表面能分析,從而評估粘性,潔凈度及鍍膜。晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)采用輕量化的設(shè)計(jì)、組裝方便的基于Windows™標(biāo)準(zhǔn)的用戶友好型...
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橢偏儀SOPRALAB/KLA 在半導(dǎo)體工藝上的應(yīng)用
2019-01-25
公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光譜型橢偏儀(原法國Sopra公司GES5-E)。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子壽命測試儀、DLS-83D深能級瞬態(tài)譜儀。SE-2000光譜橢偏儀(原法國Sopra公司)是的橢偏儀設(shè)備供應(yīng)商,其高精度橢偏儀在半導(dǎo)體、化合物半導(dǎo)體(GaAs/SiC)、LCD和MEMS領(lǐng)域有著非常廣泛的應(yīng)用。目前有超過500臺的Sopra橢偏儀應(yīng)用在各個(gè)行業(yè)。主要特點(diǎn):高精度的薄膜測量(...
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臺階輪廓測試儀kia-tencor在半導(dǎo)體的應(yīng)用
2019-01-25
儀器簡介:應(yīng)用:◆薄膜厚度測量;◆樣品表面形貌測量;◆薄膜應(yīng)力測量;◆樣品表面粗糙度/波紋度測量;◆樣品表面三維形貌測量等。技術(shù)參數(shù):KLA-Tenco探針式臺階儀,可測量納米級至2毫米臺階高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力,集高測量精度、多功能性和經(jīng)濟(jì)性于一體,是生產(chǎn)線及材料分析等應(yīng)用領(lǐng)域的理想選擇。因其具有6.0A(1σ)或0.1%臺階高度重復(fù)性以及分辨率,主要特點(diǎn):◆Alpha-StepIQ采用天然金剛石作為探頭,經(jīng)久耐用。探針更換簡便、快速,軟件具有保護(hù)測針以...